STMと非接触AFMによるフッ化フラーレン単分子膜の構造および電子状態の解析

抄録

Au(111)上のフッ化フラーレンC₆₀F₃₆単分子膜に対し、STMと非接触AFMによって、構造および界面電子状態を解析した結果を報告する。密度汎関数法による計算との比較から分子吸着構造と超構造モデルを見出し、そこから分子間相互作用および分子膜‐基板間相互作用についての知見を得た。さらに分子軌道の相対位置からキャリアが電子となること、吸着により基板から分子膜へ電荷移動が起こり双極子が発生し仕事関数が増加すること、等が判明した。