主催: 公益社団法人 日本表面科学会
筑波大院数理物質
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多探針STMでは、探針から探針に電流を流すために探針のバイアス電圧を変化したり、また試料表面の電位計測を探針で行う必要がある。しかし、配線の浮遊容量やトンネル抵抗により測定に悪影響を及ぼしていた。我々は、プリアンプに容量補償機能を実装することによって、測定精度を高め、測定帯域を伸ばすことに成功した。また、測定に最適な補償回路の調整方法や安定性も評価し、実用的なプリアンプの開発を行った。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
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