表面科学学術講演会要旨集
第33回表面科学学術講演会
セッションID: 26Dp07
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11月26日(火)
飛行時間型二次イオン質量分析法によるアミロイドベータと脂質膜相互作用評価
*青柳 里果島内 寿徳
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キーワード: TOF-SIMS, ペプチド, 構造評価
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抄録

金基板上に構築した脂質膜と相互作用させたアミロイドベータ(1-40)の配向および構造を飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)を用いて評価した。TOF-SIMSデータを多変量解析で解析することにより、アミロイドベータの凝集部分を他と識別し、構造変化を評価した。

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© 2013 公益社団法人 日本表面科学会
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