顕微光電子回折による金表面の観察

抄録

多結晶の金を延展した金板片の表面の観察を顕微光電子回折により行った。広立体角の光電子角度分布が測定できる表示型分析器と試料位置の２次元走査機構を組み合わせた装置を用いた。入射X線径は約300μmで試料に照射した結果、サブミリオーダーの単結晶ドメインを観察することができた。これらの成果は今後の収束X線を用いた顕微光電子回折開発の要素技術となるものである。