表面科学学術講演会要旨集
第34回表面科学学術講演会
セッションID: 6P40
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11月6日(木)
酸化物粉体に対するAr-GCIBクリーニングの効果
*宗綱 信治二井 裕之國重 敦弘
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キーワード: XPS, Ar-GCIB
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抄録

XPSは試料表面の化学結合状態を評価する有力な手法の一つであるが、表面敏感であるため表面汚染の影響を受けやすく、酸化物粉体等の状態評価は困難である場合が多かった。本研究ではAr-GCIBの低損傷性とエッチングレートの材料依存性に着目し、酸化物粉体表面のクリーニングに有効であるケースを報告する。

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© 2014 公益社団法人 日本表面科学会
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