主催: 日本表面科学会
株式会社UBE科学分析センター
(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)
(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)
XPSは試料表面の化学結合状態を評価する有力な手法の一つであるが、表面敏感であるため表面汚染の影響を受けやすく、酸化物粉体等の状態評価は困難である場合が多かった。本研究ではAr-GCIBの低損傷性とエッチングレートの材料依存性に着目し、酸化物粉体表面のクリーニングに有効であるケースを報告する。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
すでにアカウントをお持ちの場合 サインインはこちら