主催: 公益社団法人日本表面科学会, 一般社団法人日本真空学会
大阪大学大学院基礎工学研究科
東京大学大学院新領域創成科学研究科
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電気二重層FETで注目されるイオン液体と有機半導体単結晶の界面で周波数変調AFM測定を行った。ルブレン単結晶を用いた場合、分子の自発的な溶出によって数時間から数10時間という長い時間スケールで欠陥の少ない界面が形成することを見出した。また、ペンタセン単結晶の場合はその時間スケールが短いことが分かった。実際にデバイス計測を行ったところ、AFM測定と同様の時間スケールで移動度が向上することが分かった。
表面科学講演大会講演要旨集
日本表面真空学会学術講演会要旨集
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