飛行時間型二次イオン質量分析と近接場赤外顕微鏡による高分子および生体分子分布評価

抄録

異なる化学情報が得られる分子分布計測手法である飛行時間型二次イオン質量分析（ToF-SIMS）と近接場赤外顕微鏡（NFIR）を用いて、同一試料化学分布を測定することにより、未知分子の同定および分布計測のより正確な実施を試みた。赤外吸収スペクトル情報を質量スペクトルとあわせて解析することにより、化学構造の決定および分子同定を容易とし、定量性の確保も目指した。両測定に多変量解析も適用した。