表面と真空
Online ISSN : 2433-5843
Print ISSN : 2433-5835
特集「モアレ模様と表面科学」
透過型電子顕微鏡におけるモアレ縞
竹口 雅樹 杉山 直之
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2018 年 61 巻 11 号 p. 722-726

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抄録

Moire fringes are observed when two (or more) crystal lattices are interfered in transmission electron microscopy (TEM). Typical application is the evaluation of epitaxial films grown on a substrate, in where their crystallographic orientation relationship could be investigated. Visualization of defects distribution using Moire fringes are also useful. Sometimes Moire fringes between crystal and digital pixel lattices are intentionally formed to visualize a strain map. In the present paper, some of those applications are introduced.

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