日本接着学会誌
Online ISSN : 2187-4816
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51 巻, 5 号
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総合論文
  • 薄膜中における分子鎖ダイナミクスと表面・界面効果の理解
    川口 大輔, 田中 敬二
    2015 年51 巻5 号 p. 144-150
    発行日: 2015/05/01
    公開日: 2017/10/14
    DOIhttps://doi.org/10.11618/adhesion.51.144
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    薄膜中における分子鎖ダイナミクスを蛍光寿命および蛍光偏光解消測定に基づき評価した。膜厚が100nm程度以下になると，分子運動は膜厚の減少とともに速くなった。一方，膜厚が15nm程度以下になると，分子運動は膜厚の減少とともに遅くなった。これらの結果は，薄膜化に伴う表面・界面効果の顕在化を考えることで説明できた。表面における分子鎖ダイナミクスはプローブ顕微鏡，動的二次イオン質量分析および中性子反射率測定に基づき，また，界面の場合は時空間分割蛍光および和周波発生分光測定に基づき評価できる。界面選択解析法を駆使した表面・界面ダイナミクスの結果を紹介するとともに，これらと薄膜中における分子鎖ダイナミクスの相関を議論した。

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