日本接着学会誌
Online ISSN : 2187-4816
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55 巻, 10 号
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ノート
研究論文
  • 佐藤 暢也, 村井 祐太, 山田 英介, 荻野 剛史, 水谷 充貴, 清水 裕巳
    2019 年55 巻10 号 p. 351-359
    発行日: 2019/10/01
    公開日: 2019/11/16
    ジャーナル フリー

    ポリオキシテトラメチレングリコール( PTMG) 或いはポリカプロラクトングリコール( PCL) の両末端をそれぞれグリシジルエーテル化した新規な両末端エポキシ化マクログリコール( E-glycol) を,ビスフェノールA型ジグリシジルエーテル( DGEBA) に添加し,三級アミン系触媒型硬化剤を用いた硬化物の諸物性とE-glycolの化学構造,分子量及び添加量の関係を検討した。その結果,PTMG系( E-PT) において,分子量が高いほど,はく離強さは低添加量領域で高い値を示し,せん断接着強さは,添加量の増加とともに大幅に低下した。曲げ物性及び破壊靭性値の強度発現においては,せん断接着強さと同じ傾向を示した。一方,PCL系( E-PCL) は,接着性及び曲げ物性の向上については,ほとんど効果は認められないが,破壊靭性値を増大させること及びその効果は分子量に依存しないことを認めた。また,それらの物性はモルフォロジーと密接に関係し,せん断接着強さ,曲げ物性,破壊靭性値は,三次元的な細かな凹凸を有する破壊面で高い物性を示すが,はく離強さは,丸みを帯びた比較的大きな凹凸の破壊面で高い値を発現することを認めた。

総説
解説21.イメージングの基礎と最新動向
  • 堀内 伸
    2019 年55 巻10 号 p. 374-382
    発行日: 2019年
    公開日: 2026/03/20
    ジャーナル フリー

    This article reviews the imaging and analyzing techniques of adhesion interfaces by electron microscopy to study the mechanism behind the adhesion phenomena. The electron microscopic techniques that are featured in this article are energy-filtering transmission electron microscopy(EFTEM), scanning transmission electron microscopy(STEM) and low-voltage scanning electron microscopy(LV-SEM). Adhesion interfaces are characterized by STEM combined with energy dispersive X-ray spectrometry(EDX) and electron energy loss spectroscopy(EELS). STEM-EDX allowed us to perform local elemental analysis and mapping in nanometer scale, while STEM-EELS provide us information on chemical structures included in the small regions of interest. Specimen preparation techniques for EFTEM and STEM are also shown to obtain thin cross sections of interfacial regions by ultramicrotomy. High-resolution LV-SEM gives us surface topographic features with nanometer scale formed by disentanglement of polymer chains at adhesive interfaces. This fractographic investigation allows us to study the entanglement of polymer chains at interfaces.

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