X 線を物質に照射すると,含まれる元素に応じた特定のエネルギーで,吸収端と呼ばれるX 線の吸収現象が起こる。これはX 線による内殻電子の励起に伴う現象で,そのスペクトルを解析することにより,吸収原子の電子状態や配位構造についての情報を得ることができる。この手法が,X 線吸収微細構造 (X-ray absorption fine structure, XAFS) である。比較的透過力の強い X 線を用いるXAFS 法は,電気化学デバイスを始めとするデバイスのオペランド計測に適しており,様々な材料や反応の評価を行う上で強力なツールとなっている。特に近年では,放射光施設の利用拡大も相まって,単なるバルク材料の計測に留まらず,高空間分解,高時間分解,多次元,マルチスケールなど,高度な計測も可能となってきている.本発表では,そのような放射光高度計測とそれらを電池反応解析に適用した例について紹介する.
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