電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ Fundamentals Review
Online ISSN : 1882-0875
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1 巻 , 3 号
選択された号の論文の22件中1~22を表示しています
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表紙
ごあいさつ
巻頭言
特別寄稿
解説論文
SITE研究会提案
IMQ研究会提案
US研究会提案
  • 鎌倉 友男, 酒井 新一
    1 巻 (2007) 3 号 p. 3_37-3_43
    公開日: 2011/03/01
    ジャーナル フリー
    例えば,交通バリアフリー関連での音による注意喚起や的確な歩行誘導に,また展示会場における各ブースごとの個別案内に適用でき,その周囲の静音化が達成できる超指向性パラメトリックスピーカの開発に取り組んだ.このスピーカは超音波の非線形現象を積極的に応用するところにアイデアがあるが,これを実現するには,物理をはじめとして,音場解析を目的とした数学,ひずみの少ない可聴音を得るための最適な超音波変調方式や電子回路技術など,多方面からの検討が必要である.音環境の改善や整備を目的としたパラメトリックスピーカの開発過程の一端を紹介したい.
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IT研究会提案
  • 阪田 省二郎
    1 巻 (2007) 3 号 p. 3_44-3_57
    公開日: 2011/03/01
    ジャーナル フリー
    代数的な誤り訂正符号の基本的な考え方,方法について,最近の進展も含めて概説する.線形代数にプラスアルファの代数を加えたもの,代数的な構成が符号の効率的な利用(符号化,復号,ハードウェア化)に直結しているものを,狭義の「代数的符号」と呼び,そのような符号の構成と利用, 特に復号法について述べる.代数的な方法の基礎となるのは,有限体上の(1変数,または,多変数)多項式, あるいは,(一次元, または, 多次元)配列による符号の表現である.復号において,線形再帰関係とグレブナー基底の概念が重要な働きをする.
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ISEC研究会提案
VLD研究会提案
  • 梶原 誠司, 佐藤 康夫
    1 巻 (2007) 3 号 p. 3_71-3_77
    公開日: 2011/03/01
    ジャーナル フリー
    半導体製造プロセスの微細化やSoC(System-on-a-Chip)の高速化に伴い,遅延故障のテストの重要性が高まっている.論理回路の遅延故障のテストには,高精度な測定を可能にするDFT(Design for Testability)やテストパターン印加の仕組み,フォールスパスを考慮し故障の伝搬経路長を考慮したATPG(Automatic Test Pattern Generation:自動テストパターン生成),SoCのテストでは,高速クロック生成,複数クロックドメインへの対応等の総合的アプローチが必要である.本論文では,基本となる遅延故障のテスト手法を解説する.
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その他
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委員会・編集後記
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