プリント配線板は高密度化され, 生産手段高度化とともに製品の良否判定を行う検査においても高精度が要求されてきている。プロービングによる通電検査は従来より行われているが, SMD搭載基板の増加, 部品リードピッチの縮小などにより, プロービング治具の作成は困難を極めている。そこで従来のプロービング治具の精度を分析し, 最近もっとも高精度である0.1mm幅, 0.3mmピッチの端子を有するプリント配線板の検査治具, および検査方式の確立を行った。
その結果, 従来方式の一括プロービングにおいては, トータル精度からみてプリント配線板全面の接触を保証することは困難である。すなわちプロービング治具の面積が大きくなると, 治具精度のみならず, 被検査基板の伸縮, ガイド穴ずれ等も無視できなくなり, 適切な接触ができにくい。そのため, 全面を一括プロービングするのではなく, 特定のパターンを持った少数ピンヘッドを高精度に作成し, 画像位置合わせにより, スキャンを繰り返し通電検査を行う検査方式とした。
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