銅酸化膜の密着性と膜構造

公開日: 2010/03/18 | 11 巻 6 号 p. 423-428

宮沢 薫一, 三宅 淳司, 波多野 隆紹, 佐久間 健人

銅箔の信頼性評価

公開日: 2010/03/18 | 10 巻 2 号 p. 90-95

美甘 昌宏, 山岸 武, 阿曽 和義

プリント回路板の絶縁劣化要因としてのイオンマイグレーション―その発生メカニズムと抑制策―

公開日: 2010/03/18 | 10 巻 2 号 p. 80-86

大鳥 利行

光デバイスの実装は何が難しいか?―光と電気の違い

公開日: 2010/03/18 | 12 巻 1 号 p. 41-44

中野 義昭

イオンマイグレーションのメカニズムの検討

公開日: 2010/03/18 | 10 巻 2 号 p. 101-107

鶴 義之, 岡村 寿郎, 菅野 雅雄