新しいバイオ材料の分析手法として飛行時間型2次イオン質量分析法（TOF-SIMS: Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectroscopy）が近年注目を集めている．本稿では，TOF-SIMS のさらなるバイオ材料分析への適用を目指して我々が開発を行ってきた，ナトリウム塩，または，酸の水溶液をTOF-SIMSの検出感度増強剤として用いる方法を紹介する．この検出増強剤を，ペプチド膜試料表面にわずかに滴下することにより，質量数7649 amuまでのペプチド分子イオンを高感度に，かつ，試料の分布状態を維持した状態でイメージ検出することに成功している．さらに，この検出法とインクジェットプリント技術の併用による，インシュリン分子や消化処理タンパク質フラグメントの微細な可視化についてを合わせて紹介する．

　原子・分子が同時に同じ場所に多数衝突するクラスターイオンでは，非線形照射効果と呼ばれる新しい現象が起こる．これを利用し様々な分野で画期的な成果が報告されており，従来のイオンビーム技術の限界を打破する新しい原理に基づく新技術として期待されている．ここでは，クラスターイオン特有の非線形現象について述べるとともに，そのナノプロセスへの応用やクラスターイオンを1次イオンとして用いるクラスターSIMSなどの分析技術についても概観する．

　有機材料または生体の表面分析にクラスターイオンの利用が増加している．クラスターイオンの生成技術，特徴的なスパッタリング過程，その表面分析への応用について，現状の報告をおこなう．

　最近の飛行時間型二次イオン質量分析法（Time of flight secondary ion mass spectrometry, TOF-SIMS）は，一次イオンとしてSF₅⁺，Au₃⁺，C₆₀⁺といったクラスターイオン源を装着したTOF-SIMSが実用化されてきている．クラスターイオンは高質量二次イオンの高収率化や非破壊的に材料表面をスパッタリングするなどの利点を有している．しかし生体材料などライフサイエンス材料分析ではさらなる二次イオンの高収率化が要求されてきている．これら材料分析のため，最近よりサイズの大きなクラスターイオンの研究が盛んに行われている．ここでは，最新の巨大クラスターイオン（帯電液滴）を用いたSIMSの現状を報告する．

  Three kinds of peak detecting algorithms for AES and XPS spectrum are proposed. These peak detecting methods are composed of three stages of algorithms: rough estimation of the background; direct calculation of the peak and background relation at the candidate peak; and application of the second derivative curve. This report provides concrete methods of finding peaks in a measured spectrum of surface analysis based on an empirical investigation of how to detect significant signals among faint ones. Algorithms and characteristics of the respective peak detecting methods are discussed.

　電子光学装置の空間分解能は，電子の波動性に由来する理論的な限界を有します．この効果は回折収差と呼ばれ，短波長の極限でのみ有効な幾何光学を補うものです．今回は回折理論をもとに球面収差と色収差が空間分解能に及ぼす影響を議論し，また空間周波数フィルタとしての光学系の働きをアッベの結像理論にもとづいて考察します．