”Journal of Surface Analysis”は，X線光電子分光(XPS)を始めとするオージェ電子 分光(AES)，二次イオン質量分析(SIMS)などの多様な分析手法による表面の分析に関する基礎から応用に渡る広い分野の報告を掲載しています．特に，実用的で標準化に繋がる分析の現場での様々な技術報告の掲載に特徴があります．理論と実践は実用の両輪であり，これら技術報告の積み重ねと，表面分析に関する物理定数データベースの高精度化の追求や高度解析法の実用化，分析・計測データの信頼性の向上のための研究・開発を融合させ，真に「実用的な表面分析法の普及」を目指しています．これを実現するために、研究論文，速報，技術報告，解説，総説，ノート，講義など多岐にわたる報告を掲載しています．さらに，査読者と投稿者の間の表面の分析に関する技術的な質疑応答を掲載することで，読者により深い理解が得られるように努めています．また，読者からの掲載論文への質問コーナーとしてＱ＆Ａも用意しています．全ての投稿原稿はpeer reviewを受け，査読有り論文として掲載の可否が決定されます．さらに、冊子での配布と共に，オープンアクセスジャーナルとして電子版が無料公開されます．

  一般社団法人　表面分析研究会  が発行