応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
82 巻, 5 号
『応用物理』 第82巻 第5号
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今月のトピックス
巻頭言
企画の意図
総合報告
  • 現状と今後の展開
    中村 友二
    2013 年 82 巻 5 号 p. 376-384
    発行日: 2013/05/10
    公開日: 2019/09/27
    ジャーナル フリー

    材料の表面自身を変化させ,新しい機能を付加する表面改質技術について,金属材料・高分子材料を中心に概説し,半導体プロセスで行われている類似の処理について述べる.まず金属に対する表面焼き入れ,ピーニング,拡散浸透法,イオン注入,化成処理,溶射について,次に高分子材料に対する薬液処理,UVオゾン処理,プラズマ処理について概説した後,LSIプロセスにおけるシリサイド技術,Cu表面の改質技術,低誘電率絶縁膜のダメージ回復技術について紹介する.

解説
最近の展望
  • 八木 貴志, 竹歳 尚之, 馬場 哲也
    2013 年 82 巻 5 号 p. 397-402
    発行日: 2013/05/10
    公開日: 2019/09/27
    ジャーナル フリー

    薄膜・界面の熱物性は,現代の電子機器や情報機器に用いられるデバイスの発熱や内部の温度を適切に制御するために重要である.薄膜において特徴的な,微細な結晶粒,結晶欠陥,また成膜プロセスに起因する気体分子の混入などは熱伝導のキャリヤであるフォノンや自由電子を散乱する要因となるため,薄膜の熱物性値は物質本来の値とは異なることが多い.またナノスケールの多層構造では,異種物質の接触面において生じる熱抵抗(界面熱抵抗)も無視できない影響を及ぼすことがある.本稿では,金属薄膜の膜厚方向の熱拡散率を定量的に測定できるパルス光加熱サーモリフレクタンス法の概要を紹介し,薄膜の熱拡散率の計測例や界面熱抵抗の評価について紹介する.

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