日本信頼性学会誌　信頼性

表紙

原稿種別: 表紙
2003 年 25 巻 2 号 p. Cover1-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_Cover1

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お知らせ

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. i-ii
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_i

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行事予定

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. iii-iv
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_iii

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目次

原稿種別: 目次
2003 年 25 巻 2 号 p. v-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_v

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CONTENTS

原稿種別: 目次
2003 年 25 巻 2 号 p. vi-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_vi

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LSI故障解析における光の復権

二川清

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 89-90
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_89

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「半導体と信頼性」を企画して

尾崎浩

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 91-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_91

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第6回JEITA/JEDEC JC-14ジョイントミーティング

宮本和俊

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 92-97
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_92

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JEITA半導体信頼性グループは半導体の信頼性試験方法に関しての標準化活動を行っている.JEITA試験規格の国際化を図るために1995年から米国のJEDEC JC-14とジョイントミーティングを年1回開催してきた.主に,表面実装型半導体デバイスのリフローはんだ耐熱性に関する試験方法を議論してきた.今回は,環境問題の鉛フリーヘの対応に伴ってはんだ融点が上昇したことにより,従来の考え方を根本的に変更することが必要になり,鉛フリーはんだでのリフロープロファイルに関しての議論をおこなった。JEDECは,はんだ融点が上昇してもピーク温度上昇を極力抑えて250°Cピークを提案しており, 260°Cピークを提案しているJEITAとは異なるので,その結果について報告する.

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LSIのホットキャリア劣化現象について

松山英也

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 98-102
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_98

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LSIの基本素子であるMOSFETは従来"劣化しないもの"と扱われて来た.しかし微細化にともないMOSFETは"劣化するもの"として扱わざるを得なくなった.近年LSIの電源電圧が世代ごとに3.3, 2.5, 1.8, 1.2, 1.0Vと低下してきたのは様々な要因があるが,MOSFETの劣化を抑えるためでもある.MOSFETの劣化とはどのようなものなのか.今回、代表例であるホットキャリア劣化についてその現象,メカニズム,寿命推定方法を紹介する.信頼性保証を行う際も、従来行われてきた実際の製品により評価を行う現物主義では保証しきれない.劣化メカニズムを踏まえ,MOSFETの素子自体でホットキャリア試験を行い,その結果から推定された劣化量を回路マージンとして設計者が確保することが必要である.MOSFETが"劣化するもの"として扱わねばならないので,劣化メカニズムの理解は非常に重要である.また信頼性技術者のみが知っていればよい問題ではなく,設計者と知識を共有しなければならない.(社)電子情報技術産業協会JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)にてデバイスメーカー各社の信頼性評価試験の標準化をおこなっている.MOSFETのホットキャリア試験も既に標準化が行われている.現在は,100nm世代以降へ向けてのバージョンアップを進めているので,その活動も紹介する.

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実装信頼性評価とその加速性の検討

須川学, 松島博, 和田哲明

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 103-109
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_103

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半導体デバイスのはんだ実装後の信頼性に着目し,実装後のパッケージ単体へ与える影響を検討した.検討の結果,パッケージのタイプによっては,実装による機械的ストレスがパッケージヘ影響を及ぼすことが明確となった.また,実装後の信頼性評価の一試験方法である曲げ試験に着目し,加速試験の可能性を検討した.その結果,くり返し曲げ試験の加速要因としては,たわみ量,および曲げスパンによる曲率で決まり,くり返し寿命は概ね曲率の-2乗に比例し,塑性歪を曲率に置き換えたコフィン・マンソン則に従うことがわかった.

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Cu配線のエレクトロマイグレーション現象

林将志, 中野真治, 和田哲明

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 110-120
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_110

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エレクトロマイグレーションは,金属配線に高密度の電流を長時間流すことによって生じる配線金属の原子移動現象である.従来より適用されてきたAI配線では,この現象に関する研究が長年なされている.しかし,配線遅延低減,エレクトロマイグレーション信頼性向上のため,近年,各社で開発が進められているCu配線のエレクトロマイグレーション現象については、故障メカニズムを含め,現状,十分究明されていない.ここでは,Cu配線のエレクトロマイグレーション現象について,試験条件設定において注意が必要な加速限界と,材料,プロセス条件等の検討結果について,AI配線との比較も交えながら,報告する.

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システムLSI設計プラットフォーム "SOCplanner"の信頼性

日野哲朗, 田中政樹, 尾崎浩

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 121-126
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_121

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大規模化,複雑化するシステムLSIを短期間で開発するために,ライブラリやCPUコア等の部品,設計ツール,設計技術を統合したシステムLSI設計プラットフォームを構築した.既に,0.18と0.13μm世代のライブラリが利用可能となっており,CPUコア,メモリ,アナログを搭載するシステムLSIの製品展開を拡大している.プラットフォームの信頼性は,デバイスレベルでは故障メカニズムに基づき,ウエハプロセスの開発段階で評価する.製品レベルの信頼性はデバイスの評価に基づいた設計ルールにより,設計段階で検証する信頼性設計方式を確立した。

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システムLSI論理検証ツールとしてのRTG(Random Test Generator)

廣瀬善太郎

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 127-131
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_127

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近年,マルチメディア機器,携帯電話,自動車および産業機器システム等向けに開発されるマイコン等の論理LSIのタイムリーな開発がより重要になってきている.その際に論理品質の確保が最も乖背な要素の一つとして挙げられる.本稿ではこの論理検証を合理的に,かつ効果的に進める論理検証ツールの中でのRTGの役割と内容について述べる.

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論理解析による故障診断手法の紹介

佐藤康夫

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 132-138
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_132

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ソフトウェアを用いた論理的故障診断システムを開発した.本システム適用で,故障サンプルを分解する前に,予めテスタ測定結果から故障候補箇所を数ケ所程度に特定することが出来る.それ故,引き続く解析装置による観測や加工の十分な戦略立案が可能となり,全休の解析精度及びTATを向上出来る.本システムは,スキャン設計を用いたテスト,論理シミュレーションパターンによる機能テスト,及びIddqテストヘの対応を可能とした.また信号ノードが電位的に固定した縮退故障だけでなく,微細プロセスで顕在化してきている配線ショート,配線オープン,或いはディレイ等の電位が動的に変化する故障への対応も可能として解析精度を向上した.実際の運用場面では,ソフトウェアによる絞り込み結果だけでは不十分で,結果を回路・レイアウト構成や実際の論理値との照合,或いは解析装置による観測結果との照合を行って,結果を多角的,総合的に解釈することも重要である.本システムではこの作業容易化を目指しリーズニングと呼ぶツールも開発した.システム全体は「小五郎」と名付け,論理LSIの故障解析へ寄与している.

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LSIの故障解析技術の最近の動向

二川清

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 139-147
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_139

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(書評)最新電子部品・デバイス実装技術便覧:共同編集井原惇行、益田昭彦 2002.12.16 R&Dプランニング1338ページ, \57,000(税抜き)

生岩量久

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 148-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_148

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航空自衛隊における信頼性管理の始まり

武藤弘道

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 149-150
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_149

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東京電力の自主点検記録改竄事件

濱野恒雄

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 151-165
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_151

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半導体の信頼性(FAQ):問-初期故障の信頼性抜き取り計画

尾崎浩

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 166-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_166

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平成14年度第4回理事会議事録

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 167-168
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_167

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平成15年2月会員状況

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 169-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_169

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編集後記

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 170-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_170

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編集委員会委員名簿

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 171-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_171

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論文目次

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 173-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_173

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日本信頼性学会「論文」投稿規定

原稿種別: 付録等
2003 年 25 巻 2 号 p. 174-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_174

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製品安全のためのリスク解析 : a-FTAの提案と電気掃除機に対するケーススタディ

柴田義文, 佐藤吉信

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 175-192
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_175

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本論文はPL問題に発展しかねないパワーブラシを持つ電気掃除機の潜在危険を例に,危険事象頻度に着目したリスク解析を行なった.まず、その解析手法として従来広く使用されているFTAを改良したアドバンストFTA(a-FTA)を提案している.a-FTAでは,非可換順序優先および可換順序優先ANDゲートや順序依存最小カット集合を用いて解析を行なう.次に,電気掃除機に対して,解析対象となる潜在危険を同定しこの潜在危険に対して潜在危険抑制措置を検計した.潜在危険抑制措置のリスク軽減効果を確認するために,a-FTAやETAを実施した.その結果,潜在危険抑制措置のリスク軽減効果を主観的ではあるが定量的に評価することができた.

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Study on Validation Method of Operative Reliability of Safety-Related Control Systems

Takabumi FUKUDA, Kunihiro KUROI, Hisaji SHIMIZU

原稿種別: Article
2003 年 25 巻 2 号 p. 193-205
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_193

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In order to reduce disaster rate due to machine in working place, new methodology in safety technology is expected. With this background, international standards on machine safety are highlighted. This paper concerns the function of safety devices for machines and their validation according to the standards. The purpose of this study is to understand core concepts included in them through a case-study. In this paper, 3 typical circuits for safeguards are focused and their safety functions are analyzed by FMEA, ETA, and FTA and importance index. Through this study, following points are shown:(1) procedure of categorization of safety devices, (2) importance of failure detection especially in Category 4, and (3) ranking of components by importance index.

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反復法を用いた大規模2段階整備システムにおける稼働率解析

弓削哲史, 川口礼人, 柳繁

原稿種別: 本文
2003 年 25 巻 2 号 p. 207-217
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_207

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本論文では,2段階整備システムにおいて現場(ベース)で逆用されるアイテム数を有限として,その稼働率解析を行う.この方法は,ベースで稼動しているアイテム数の平均値に着目し,反復法を用いることにより,これまで提案されていた方法よりも短い計算時間でのモデル解析を実現している.また,移送時間を考慮することにより現実的なモデルになっている.また,修理不能で廃棄される故障を考慮した解析も行っている.これらの方法はシミュレーション結果ともよく一致し計算も容易である.

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裏表紙

原稿種別: 表紙
2003 年 25 巻 2 号 p. Cover2-
発行日: 2003/03/25
公開日: 2018/02/26

DOIhttps://doi.org/10.11348/reajshinrai.25.2_Cover2

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