従来のマッサージシャワーにおける課題を解決し,市場が望む新型マッサージシャワー開発において,信頼性確保のための評価試験,CAE,動的解析などにより画期的な新しいシャワー:ワンダービートが完成した.健康志向の高まりを受けて,マッサージ効果の高い,かつシャワーによる血流量の増加効果が通常のシャワーより高いマッサージシャワーを開発した.

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横断型科学技術研究団体連合という団体が昨年発足した.日本信頼性学会もその一員として参加することが理事会で承認された.横断型科学技術研究団体連合発足のいきさつは何か.その背景にある社会情勢は.また,何を目指すのか.理事会報告のメモをもとに解説する.

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信頼性の評価指標に不信頼度がある.これに対し,安全性は対象が非対称誤り特性を持つか否かで判断される.この両方が優れていると考えられる素子に磁気駆動接点を備えたパワーリードスイッチがある.これは,故障時に非対称誤り特性を実現でき,電磁ノイズなどの影響も受け難いことから,高水準の安全方策を実施する上で必須の構成要素と考えられる.ところで,過去の研究でパワーリードスイッチの信頼性が時間故障率で4.8(Fit),回数故障率で10^<-9>-10^<-10>(1/回)等のデータが得られているのに対し,安全性の評価指標である危険側故障の発生確率に関しては定量的なデータがない.そこで,パワーリードスイッチの危険側故障の発生確率をフィールドデータに基づき推定し,2.0×10^<-10>(1/h)との結果を得た.また,リスクを筆者らが提案する許容範囲内とするには,パワーリードスイッチの二重化と不一致検出が必要であることが判明した.

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Since it has become popular to use applications on window operating systems, such as Microsoft Windows and GNOME, we attempt to use the GUI specific testing approach. Thus, model-based testing was newly established and often used in GUI application testing, but the model-based testing method is not yet mature and has not been researched enough. In this paper, we will clarify which factors are lacking and offer solutions with case studies.

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本論文では,ソフトウェアの信頼性評価法の拡張として,ソフトウェアの脆弱性評価法について考察する.まず,ソフトウェアの入出力関係を表現した従来のI-P-Oモデルを拡張し,ソフトウェアを不特定多数のユーザが利用する運用環境では,開発者の意図しない入力が故意になされることによって故障現象が生じうることを考慮した上で,ソフトウェアの信頼性と脆弱性の捉え方を整理する.これに基づいてソフトウェア脆弱性を定義し,その評価モデルの構築を行う.また実際にセキュリティホールに対するプログラムの改変が行われながら運用されている電子メール配送アプリケーションsendmailのソフトウェア脆弱性評価を試み,考察する.

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IEC 60300-3-6: Dependability Management - PartG :Application guide - Section 6: Software aspects of Dependability (1997-11)ソフトウェアにおけるディペンダビリティの側面は総合的信頼性管理の基本文書IEC 60300-1/ IEC 60300-2の適用文書の一分野として発刊され、すでに6年が経過し、ISO/IEC指針書に従った見直しの時期にある。現在、当文書の改定作業はIEC/TC56の作業部会WG4のプロジェクトPT4.6として登録され、改定作業に入った。このプロジェクトは過去の担当WGでの貢献と経緯から日本が担当することになった。ここでは日本原案の意図と構成内容の概略を紹介する。併せて、総合的な現状の工業技術と市場を反映した信頼性管理プログラムの一要素としての有効性とその意義を説く。又、これが総合的信頼性管理における重要な一つの総合的信頼性プログラムとしての概念と意義と有効性を宣伝し、併せて興味を持つ専門家や実務家の意見を受けつつ、このプロジェクトヘの協力の要請と参画を勧誘する。なお、初版はJIS C 5750-3-6として翻訳と解説付きで、現在、出版準備の段階にある。

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近年,半導体デバイスの微細化,メタル配線の多層化に伴いチップ表面から回路領域の微少電流を解析する事が困難になってきている。我々は,0.35μm,CMOS LSI においてシリコン基盤の結晶欠陥に起因するI/O端子のリーク電流不良を裏面IROBIRCH法(Infrared Optical Beam Induced Resistance Change)[1]を使ってチップ背面より観測し,I/Oトランジスタのゲート付近の拡散リーク発生箇所を特定した。TEM解析の結果,リーク発生原因がシリコン結晶欠陥である事を解明し,更に,結晶欠陥を対策するためデバイスシミュレータを使って結晶欠陥のプロセス要因・メカニズムを抽出し,実デバイスを用いて検証した。

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Redundancy alllocation is an efficient method to improve reliability and many studies on optimal redundancy allocation have been presented for various structures, such as series system, bridge system and general system by many techniques. In this paper, we deal with the problem in which redundancy or alternative component (or module) can be considered at all level in series systems. A mixed integer nonlinear programming problem is proposed and a genetic algorithm is used to find the solutions.

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