日本信頼性学会誌 信頼性
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39 巻 , 5 号
高品質を要求するLSIテスト技術
選択された号の論文の5件中1~5を表示しています
  • 中村 芳行
    2017 年 39 巻 5 号 p. 262-269
    発行日: 2017年
    公開日: 2019/10/01
    ジャーナル オープンアクセス
    今日,機械学習やディープラーニングといったデータを利用して推論を行う人工知能は,画像認識な ど様々な分野で大きな成功をおさめている.LSI テストの分野においても,その応用技術の開発が活発 に行われるようになってきた.本稿では,その新たな潮流について解説する.
  • 松嶋 潤
    2017 年 39 巻 5 号 p. 270-275
    発行日: 2017年
    公開日: 2019/10/01
    ジャーナル オープンアクセス
    近年,医療器具や自動車など安全要求の高い製品でも多くの LSI が使われています.本稿では,この ような高信頼が必要な LSI での無故障の担保,品質の確保を実現するために,どのようなテストをすべ きか,何を考慮したテスト設計が必要かについて製品のテストを実現してきた経験に基づき解説してい きます.l
  • 佐藤 康夫
    2017 年 39 巻 5 号 p. 276-282
    発行日: 2017年
    公開日: 2019/10/01
    ジャーナル オープンアクセス
    LSI のテストは 1960 年台にスキャンテストが発明されて以来,大いなる発展を遂げている.論理回路 のテストでは EDA(Electronic Design Automation)ツールも整備され,論理設計者がそれほど関与しな くても DFT(Design For Testability)の専門家がテスト設計をこなせるようになっているとの認識を抱く 人も多い.しかし,半導体製造技術の微細化,半導体性能の高速化や拡大する多様なアプリケーション への対応が求められる中で,テスト品質を向上し,さらに妥当なテストコストを実現するため多くの課 題を抱えている.本稿では,LSI テストの発展を振り返り,その中で著者らが取り組んだ遅延テストの 品質評価技術を紹介する.また今後の課題について進むべき方向を考える.
  • 畠山 一実
    2017 年 39 巻 5 号 p. 283-290
    発行日: 2017年
    公開日: 2019/10/01
    ジャーナル オープンアクセス
    もののインターネット(IoT:Internet-of-Things)の広がりとともに LSI の利用分野はどんどん拡大し ており,国際会議での「LSI 分野は歴史上で最もエキサイティングな時期を迎えている」という発言が 何の疑問もなく耳に入るようになってきている.一方では,半導体の微細化が限界に近づきつつあると は言うものの,異種集積なども含めて LSI の複雑化は留まるところを知らない.このため,LSI のテス トはますます困難な問題となっており,テストコストクライシスがいよいよ現実のものとなる恐れもあ る.このような状況に鑑み,本稿では,LSI を含む電子回路のテスト技術に関する最大規模の国際会議 である国際テスト会議(ITC:International Test Conference)の昨年の会議(ITC2016)を通して,LSI テ ストの技術動向について示す.そして,車載 LSI 等で非常に重要となるテストによる LSI 品質の確保に 焦点を当てて,高品質テスト生成技術,テスト結果データ利用技術,及び,アナログ構造テスト技術に 関連する最新の研究内容について紹介する.
  • 木村 学, 石田 雅裕
    2017 年 39 巻 5 号 p. 291-296
    発行日: 2017年
    公開日: 2019/10/01
    ジャーナル オープンアクセス
    IoT(Internet of Things)として説明される社会トレンドは,半導体デバイスがこれまで以上に社会基 盤そのものを支える基幹部品となることに他ならない.半導体デバイスはありとあらゆるところに設置 されるようになっており,ときにはその品質によって大きな損失を生じる恐れがある.このような状況 をかんがみると,半導体デバイスの機能・性能を検査し,品質を担保するテスト(以降,IC テストと呼 ぶ)が重要となることは自明であるといえよう.本稿では,IC テストの目的と傾向,課題について解説 し,我々が取り組んでいる「クラウドを活用した IC テスト環境/システム」について紹介する.
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