近年開発された超音波減衰法を用いて高濃度系無機粉体スラリーの粒度分布を測定し, 従来から用いられているレーザー回折法, 光子相関法による希薄系粒度分布測定との再現性および精度の比較を行った。その結果, 測定の再現性については, 超音波減衰法を用いた場合は従来法と同等以上の良好な再現性を得た。また測定精度については, 従来法と同等の粒子径の値を得た。
これらの結果から, 超音波減衰法を用いた粒度分布測定によって, 高濃度系無機粉体スラリーを希釈することなく粒子径を評価することが可能であり, この手法が工程管理に有用であることが見いだせた。
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