反射偏光解析を用いた配向印刷液晶膜の評価

抄録

スリットコータにより配向塗工後UV重合した液晶膜の膜厚を分光エリプソメータによる反射偏光解析により測定する。以前までの研究で、ネマティック液晶のみで形成した液晶層の膜厚は容易に決定できたが、重合剤入りの液晶で形成した液晶層はうまく決定できなかった。これは、重合剤を入れたことにより液晶の複屈折率が変わってしまったことが原因として考えられる。今回の研究では、重合剤入りの液晶層の複屈折率を測定し、その値を基に膜厚を測定することで理論値通りの値がでるのかを確認する。