不純物disordering効果により誘起される液晶/高分子弱アンカリング界面のハンセン溶解度パラメータ解析

日本液晶学会討論会講演予稿集

Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490

2017年日本液晶学会討論会

セッションID: PB03

DOI https://doi.org/10.11538/ekitou.2017.0_PB03

会議情報

主催: 一般社団法人日本液晶学会

会議名: 2017年日本液晶学会討論会

開催地: 弘前大学

開催日: 2017/09/13 - 2017/09/15

不純物disordering効果により誘起される液晶/高分子弱アンカリング界面のハンセン溶解度パラメータ解析

*藤川晃次, 奥村泰志, 樋口博紀, 山本潤, 菊池裕嗣

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