AFMによるPI-LB膜の表面観察とアンカリング強度の評価

液晶討論会講演予稿集

Online ISSN : 2432-9959
Print ISSN : 1880-3539
ISSN-L : 1880-3539

第18回液晶討論会

セッションID: 2D101

DOI https://doi.org/10.11538/ekitouyokou.18.0_134

会議情報

主催: 応用物理学会, 高分子学会, 日本化学会

会議名: 第18回液晶討論会

回次: 18

開催地: 新潟大学五十嵐キャンパス

開催日: 1992/10/02 - 1992/10/04

AFMによるPI-LB膜の表面観察とアンカリング強度の評価

徐大植, 松田英明, *吉田典弘, プッターペットバイシー, 小林駿介

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© 1992 一般社団法人日本液晶学会

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