新しい光学測定法を用いた液晶方位角方向アンカリング強度の評価

液晶討論会講演予稿集

Online ISSN : 2432-9959
Print ISSN : 1880-3539
ISSN-L : 1880-3539

第19回液晶討論会

セッションID: 3D12

DOI https://doi.org/10.11538/ekitouyokou.19.0_378

会議情報

主催: 応用物理学会, 高分子学会, 日本化学会

会議名: 第19回液晶討論会

回次: 19

開催地: 東京大学教養学部

開催日: 1993/09/20 - 1993/09/22

新しい光学測定法を用いた液晶方位角方向アンカリング強度の評価

*小林紀彦, 阿部裕幸, 飯村靖文, 小林駿介

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© 1993 一般社団法人日本液晶学会

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