SPMによるポリイミド配向膜観察

繁野 雅次; 島田 和夫; 杉野谷 充

doi:10.11538/ekitouyokou.21.0_10

第21回液晶討論会

セッションID: 1A05

DOI https://doi.org/10.11538/ekitouyokou.21.0_10

会議情報

主催: 日本化学会, 高分子学会, 応用物理学会

会議名: 第21回液晶討論会

回次: 21

開催地: メイフェアプラザ仙台

開催日: 1995/09/27 - 1995/09/29

SPMによるポリイミド配向膜観察

*繁野雅次, 島田和夫, 杉野谷充

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抄録

The Scanning Probe Microscope(SPM), invented by Binnig et al. (1981), is operable in a air, gas, liquid, or, vacuum state environment. The SPM used in the measurements was the Seiko Instruments SPI3700/SPA300 system. We wouid now like to report on study of the SPM(AFM,FFM) characteristics in relation to Polyimide Films from the viewpoint of system development.

責任著者(Corresponding author)

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