抄録
1対2希釈ガラス円盤による岩石の主成分・微量成分螢光X線分析法を検討した。ガラス円盤は試料1.8 g，融剤3.6 gとし，1200°C，9分間で溶融した。主成分分析には多成分重回帰計算で補正計数を決定し，1対5希釈と同程度の正確度を得た。同じガラス円盤を用い，14微量成分を測定した。検量線は地質調査所標準岩石と，それに標準溶液添加した試料で作成した。両者の検量線は一致している。標準添加した試料を用いて元素間の重なり補正を行った。螢光X線のS/N比が悪いので，測定時間は粉末法の2-10倍必要だった。同一の測定時間，機器条件で粉末法とガラス円盤法の比較を行った。ガラス円盤法は測定再現性にやや劣るが，正確度は優れている。粉末法には粒度効果や鉱物効果があり，測定時間が長くても精度が上がらないためである。さらに標準添加法を用いた微量成分分析を試みた結果，より精度高い分析ができた。
