テトラフルオロエチレンープロピレン共重合体を試料として放射線の照射に伴う極性基の量と架橋密度の変化とか誘電特性に及ぼす効果を以下の三つの場合に分けて検討した. (1)切断と架橋とか繰り返されなから架橋密度か低下し, 極性基が増加する場合. 室温てγ熱照射の切断と架橋のG値はおのおの1.38と1.28, C=0生成のG値については2.16を得た. この場合, 照射量とともに分散強度は大きくなり, 緩和時間は長くなる.
(2)架橋密度か異なる試料を100°Cてγ線を0.2MGy照射した場合. 分散強度の初期架橋密度依存性は少ないか, 緩和時間は初期架橋密度か高いほと長くなる.
(3)架橋と切断の量が同じてC=0の量が増加する場合. 分散強度は高くなり, 緩和時間は長くなる.
以上の結果より, 次の結論を得た. すなわち, 分散強度はC=0基の量とともに大きくなる. 緩和時間は架橋密度を反映するのてはなく, free end の鎖長に依存しカルホニル基やカルホキンル基か付加していると考えられる free end が短いほど長くなる.