水素吸蔵合金Mg2NiHxの電子構造の研究

宮武 太一; 水崎 壮一郎; 佐藤 尚俊; 伊藤 真義; 山本 勲; 櫻井 吉晴; 山口 益弘

doi:10.50988/hess.28.1_50

研究論文

水素吸蔵合金Mg₂NiH_xの電子構造の研究

宮武太一, 水崎壮一郎, 佐藤尚俊, 伊藤真義, 山本勲, 櫻井吉晴, 山口益弘

著者情報

キーワード: Metal hydride, Mg₂Ni, Electronic structure, Compton scattering

研究報告書・技術報告書フリー

2003 年 28 巻 1 号 p. 50-53

DOI https://doi.org/10.50988/hess.28.1_50

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抄録

Compton profiles for metal hydrides Mg₂NiH_x(x=2, 4(HT), 4(LT)) and the host compound Mg₂Ni were mesured by high-resolution Compton scattering with 115keV synchrotron radiation. Difference Compton profiles between the hydrides and the host compound were compared with theoretical Compton profile calculated by the LDA-FLAPW method, showing the influence of the absorbed hydrogen on the electronic structure.

責任著者(Corresponding author)

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