ディジタル画像処理による発光ダイオード中の結晶欠陥の動きの解析

抄録

ディジタル画像処理技術を用いて, あらかじめ転位を導入したGaP緑色発光ダイオードの発光輝度分布像を一定の時間間隔で記録した数百枚の画像を処理し, 肉眼では認識できない微小な発光強度の経時変化を2次元パターンとして検出した.通電初期に転位等の空間的に局在している欠陥の分布に対応して生ずる不均一な劣化速度分布は, 結晶欠陥の緩慢な移動に対応することを明らかにした.