日本結晶学会誌
Online ISSN : 1884-5576
Print ISSN : 0369-4585
ISSN-L : 0369-4585
連載企画 有機粉末構造解析をはじめよう!
試料準備から測定まで
藤井 孝太郎植草 秀裕
著者情報
ジャーナル フリー

2011 年 53 巻 3 号 p. 170-177

詳細
抄録

Techniques to prepare the sample and strategies to measure powder X-ray diffraction data for ab initio crystal structure analysis of organic and organometallic compound are shown together with an introduction to typical optics of powder X-ray diffractometry.

著者関連情報
© 2011 日本結晶学会
前の記事 次の記事
feedback
Top