日本作物学会講演会要旨集
第235回日本作物学会講演会
会議情報

形態/リモートセンシング/成長
ハイパースペクトル計測に基づいた群落クロロフィル量推定法の総合比較
-スペクトル画像の空中計測による作物・圃場状態の診断と予測 第11報-
*井上 吉雄Frederic BaretAlbert OliosoMartin SchlerfAndrew Skidmore
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会議録・要旨集 フリー

p. 222-

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