日本作物学会講演会要旨集
第255回日本作物学会講演会
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環境ストレス
イネにおける登熟期の低温ストレスによる次世代の低温登熟耐性
*澤田 悠太, 坂井 優光, 山口 訓史, 楊 欣悦, 佐々野 志帆, Suriyasak Chetphilin, 濱岡 範光, 石橋 勇志
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キーワード: イネ, 登熟期, 低温ストレス
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p. 105

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