日本作物学会講演会要旨集
第255回日本作物学会講演会
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環境ストレス
イネにおける登熟期の低温ストレスによる次世代の低温登熟耐性
*澤田 悠太坂井 優光山口 訓史楊 欣悦佐々野 志帆Suriyasak Chetphilin濱岡 範光石橋 勇志
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キーワード: イネ, 登熟期, 低温ストレス
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p. 105

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