31p-S-6 p-Siのピエゾ抵抗 V : キャリア散乱効果

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 31p-S-6

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.52.1.2.0_178_3

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31p-S-6 p-Siのピエゾ抵抗 V : キャリア散乱効果

大村八通

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