日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 20a-G-4
会議情報
20a-G-4 両面シリコンマイクロストリップ検出器の放射線損傷テスト
岩田 洋世, 大杉 節, 大本 貴文, 北林 宏章, 池田 正寛, 近藤 敬比古, 海野 義信, 寺田 進, 高力 孝, 中野 逸夫, 高嶋 隆一
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