28p-S-4 STM/STS investigation of crystalline silicon oxide film on Ni(111)surface.

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

54.1.2

セッションID: 28p-S-4

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.54.1.2.0_305_3

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28p-S-4 STM/STS investigation of crystalline silicon oxide film on Ni(111)surface.

Kundu Manisha, 村田好正

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