日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
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25pYP-5 GeV-Xeイオン注入によりSiに生成される欠陥の陽電子寿命測定法による研究
小林 剣人, 吉田 豊, 荒木 秀樹, 白井 泰治
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p. 859-

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