25aZD-4 透過型X線反射率(TXR)法による寒天ゲル/Si界面のその場観察(ゲル・濡れ,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 25aZD-4

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.60.1.2.0_354_4

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25aZD-4 透過型X線反射率(TXR)法による寒天ゲル/Si界面のその場観察(ゲル・濡れ,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))

杉本吉規, 野田武宏, 森克仁, 上石直哉, 中林史智, 北原周, 高橋功, 寺内暉, 坂田修身, 川端和重

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