21pYE-4 Si(111)表面上Bi(001)超薄膜の光電子分光測定(表面・界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 21pYE-4

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.60.2.4.0_780_2

会議情報

21pYE-4 Si(111)表面上Bi(001)超薄膜の光電子分光測定(表面・界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

平原徹, 長尾忠昭, 松田巌, E. Chulkov, G. Bihlmayer, 斎藤峯雄, 長谷川修司

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