25pTE-4 エチレン終端Si(100)基板におけるF_4-TCNQのSTM観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 25pTE-4

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.63.1.4.0_896_4

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25pTE-4 エチレン終端Si(100)基板におけるF_4-TCNQのSTM観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)

向井孝三, 小口和博, 利田祐麻, 山下良之, 吉信淳

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