日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 27pYD-13
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27pYD-13 表面X線回折法によるルブレンFET表面構造の観測(界面・分子デバイス3,領域7,分子性固体・有機導体)
若林 裕助竹谷 純一木村 剛
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