26aEB-7 低速多価イオン衝撃による希ガス固体からの絶対脱離収率の測定(26aEB 融合セッション(原子・分子・キャピラリー),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 26aEB-7

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.68.1.2.0_182_3

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26aEB-7 低速多価イオン衝撃による希ガス固体からの絶対脱離収率の測定(26aEB 融合セッション(原子・分子・キャピラリー),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

秋和正樹, 伴啓佑, 小金井寿人, 村上慎, 立花隆行, 小泉哲夫, 平山孝人

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