28pAL-6 走査型透過電子顕微鏡用位相板の開発(28pAL X線・粒子線(電子線,陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 28pAL-6

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.69.1.4.0_928_1

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28pAL-6 走査型透過電子顕微鏡用位相板の開発(28pAL X線・粒子線(電子線,陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

玉井崇之, 箕田弘喜, 飯島寛文

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