日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 21pAH-3
会議情報
21pAH-3 Belle II実験のためのシリコンストリップ型崩壊点検出器の量産にむけた電気的性能評価手法の確立
神原 直也, 千葉 順成, 西村 太樹, 小貫 良行, 樋口 岳雄, 坪山 透, 原 康二, 佐藤 伸彦, 中村 克朗, 森井 友子, Changwoo Joo, 吉延 俊輝, 清水 信宏, 佐々木 淳弥, 堀口 朋裕, 綿貫 峻, 清野 義敬, 魚住 聖, Hwanbae Park, Kookhyun Kang, Hyebin Jeon, Bobae Kim, Belle IISVDグループ
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