X線照射されたκ-(ET)<sub>2</sub>Cu[N(CN)<sub>2</sub>]Clの電気抵抗の量子臨界スケーリング解析

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 21pE21-8

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_1470

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2017年度日本物理学会秋季大会

開催地: 宇都宮大学, 岩手大学

開催日: 2017/09/12 - 2017/09/24

X線照射されたκ-(ET)₂Cu[N(CN)₂]Clの電気抵抗の量子臨界スケーリング解析

浦井瑞紀, 古川哲也, 宮川和也, 伊藤美穂, 谷口弘三, 斉藤みく, 佐々木孝彦, 鹿野田一司

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キーワード: ET（BEDT-TTF化合物および特に強い関連のあるもの）, モット転移, 電気抵抗/磁気抵抗/ホール効果, 静水圧, 輸送測定

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