蓄積電荷測定法による有機／金属界面の電荷注入障壁測定

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 23pE21-2

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.72.2.0_1557

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2017年度日本物理学会秋季大会

開催地: 宇都宮大学, 岩手大学

開催日: 2017/09/12 - 2017/09/24

蓄積電荷測定法による有機／金属界面の電荷注入障壁測定

田島裕之, 角屋智史, 大塚理人, 吉田恵亮, 荻野晃成, 佐藤井一, 横松得滋, 前中一介, 山田順一

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キーワード: 有機表面/界面物質, 分子・界面デバイス, 界面パイ電子系, 実験一般, FET/その他分子デバイス

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