方位角スキャンRHEEDを用いた三次元逆空間マッピングにおける較正法の開発II

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 22pPSB-67

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.73.1.0_2391

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2018年度日本物理学会第73回年次大会

開催日: 2018/03/22 - 2018/03/25

方位角スキャンRHEEDを用いた三次元逆空間マッピングにおける較正法の開発II

西田翔太, 竹本昌平, L. N. Pamasi, A. Nailevich, 広田望, 神保裕喜, 服部賢, 大門寛

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キーワード: 表面界面構造, 半導体, 回折

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