シンチレーションフィルムによる表面汚染測定法の開発

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 15pS41-3

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.73.2.0_104

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2018年度日本物理学会秋季大会

開催地: 信州大学 ,同志社大学

開催日: 2018/09/09 - 2018/09/17

シンチレーションフィルムによる表面汚染測定法の開発

池田晴雄

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キーワード: 測定器, ニュートリノの物理, その他の測定器

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