C<sub>60</sub><sup>+</sup>イオンによる生体分子薄膜試料のスパッタリング収率の測定

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 10aA216-5

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.73.2.0_246

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2018年度日本物理学会秋季大会

開催地: 信州大学 ,同志社大学

開催日: 2018/09/09 - 2018/09/17

C₆₀⁺イオンによる生体分子薄膜試料のスパッタリング収率の測定

澤田純平, 石井洋晶, 中嶋薫, 木村健二

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キーワード: 放射線物理, イオン－表面相互作用, クラスター・微粒子, 生体・高分子

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