超新星残骸のX線解析における深層学習VAEを用いた特徴抽出

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 16pK403-5

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.74.1.0_536

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2019年度日本物理学会第74回年次大会

開催日: 2019/03/14 - 2019/03/17

2019年度日本物理学会第74回年次大会

超新星残骸のX線解析における深層学習VAEを用いた特徴抽出

岩崎啓克, 一戸悠人, 内山泰伸, 山口弘悦

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キーワード: X線・γ線

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